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电子仪器与仪表
模块化半导体特性分析系统
模块化半导体特性分析系统4200A-SCS
使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。
使用 4200A-SCS参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。
产品参
| 直流电流-电压 (I-V) 范围 | 电容-电压 (C-V) 范围 | 脉冲 I-V 范围 |
| 10 aA - 1A 0.2 µV - 210 V | 1 kHz - 10 MHz ± 30V 直流偏置 | ±40 V (80 V p-p)，±800 mA 200 MSa/s，5 ns 采样率 |